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Journal Of Electronic Testing-theory And Applications

电子测试理论与应用杂志 SCIE

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications

较慢,6-12周 审稿时间

4区中科院分区

Q4JCR分区

1.1影响因子

0923-8174

1573-0727

J ELECTRON TEST

UNITED STATES

工程:电子与电气 - 工程技术

1990

31

Bimonthly

English

43

0.11...

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期刊简介

电子测试理论与应用杂志(Journal Of Electronic Testing-theory And Applications)是一本由Springer US出版的一本工程:电子与电气-工程技术学术刊物,主要报道工程:电子与电气-工程技术相关领域研究成果与实践。本刊已入选来源期刊,该刊创刊于1990年,出版周期Bimonthly。2021-2022年最新版WOS分区等级:Q4,2023年发布的影响因子为1.1,CiteScore指数2,SJR指数0.271。本刊非开放获取期刊。

《电子测试:理论与应用杂志》是传播电子测试领域研究和应用信息的国际论坛。这是唯一一本专门针对电子测试的杂志。《电子测试:理论与应用杂志》上发表的论文经过同行评审,以确保原创性、及时性和相关性。该杂志提供档案材料,并通过其快速的出版周期,努力将最新成果带给研究人员和从业人员。虽然它强调发表珍贵的未发表材料,但需要更广泛曝光的优秀会议论文,只要符合该杂志的同行评审标准,编辑也会酌情发表。 《电子测试:理论与应用杂志》还寻求清晰的调查和评论文章,以促进对最新技术的更好理解。

《电子测试:理论与应用杂志》的报道包括但不限于以下主题:

VLSI 设备印刷电路板和电子系统的测试;

模拟和数字电子电路的测试;

微处理器、存储器和信号处理设备的测试;

故障建模;

测试生成;

故障模拟;

可测试性分析;

可测试性设计;

可测试性综合;

内置自测试;

测试规范;

容错;

形式验证硬件;

验证模拟;

设计调试;

测试和诊断的人工智能方法和专家系统;

自动测试设备(ATE);

测试夹具;

电子束测试系统;

测试编程;

测试数据分析;

测试经济性;

质量和可靠性;

CAD 工具;

晶圆级集成器件测试;

可靠系统测试;

制造良率和良率改进设计;

故障模式分析和工艺改进

中科院分区信息

电子测试理论与应用杂志2023年12月升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 4区
电子测试理论与应用杂志2022年12月升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 4区
电子测试理论与应用杂志2021年12月旧的升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 4区
电子测试理论与应用杂志2021年12月基础版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 4区
电子测试理论与应用杂志2021年12月升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 4区
电子测试理论与应用杂志2020年12月旧的升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 4区
名词解释:

中科院JCR期刊分区(又称分区表、分区数据)是中国科学院文献情报中心世界科学前沿分析中心的科学研究成果。在中科院期刊分区表中,主要参考3年平均IF作为学术影响力,最终每个分区的期刊累积学术影响力是相同的,各区的期刊数量由高到底呈金字塔式分布。

JCR分区信息

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications(2023-2024年最新版数据)
按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 278 / 352
21.2%
按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 293 / 354
17.37%
名词解释:

汤森路透每年出版一本《期刊引用报告》(Journal Citation Reports,简称JCR)。JCR对86000多种SCI期刊的影响因子(Impact Factor)等指数加以统计。JCR将收录期刊分为176个不同学科类别在JCR的Journal Ranking中,主要参考当年IF,最终每个分区的期刊数量是均分的。

期刊数据统计

1、Cite Score(2024年最新版)
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q3 495 / 797
37%
名词解释:

CiteScore:该指标由Elsevier于2016年提出,指期刊发表的单篇文章平均被引用次数。CiteScorer的计算方式是:例如,某期刊2022年CiteScore的计算方法是该期刊在2019年、2020年和2021年发表的文章在2022年获得的被引次数,除以该期刊2019年、2020年和2021发表并收录于Scopus中的文章数量总和。

2、综合数据
3、本刊综合数据对比及走势

文章引用数据

文章名称 引用次数
  • Machine Learning for Hardware Security: ...

    10
  • Security Analysis of the Efficient Chaos...

    6
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    3
  • The Fundamental Primitives with Fault-To...

    3

期刊被引用数据

期刊名称 引用次数
  • J ELECTRON TEST

    30
  • IEEE ACCESS

    21
  • IEEE T COMPUT AID D

    16
  • ANALOG INTEGR CIRC S

    11
  • IEEE T VLSI SYST

    10
  • IET COMPUT DIGIT TEC

    9
  • MICROELECTRON J

    9
  • SENSORS-BASEL

    9
  • MICROELECTRON RELIAB

    8
  • INTEGRATION

    7

期刊引用数据

期刊名称 引用次数
  • IEEE T COMPUT AID D

    62
  • IEEE T VLSI SYST

    58
  • IEEE T COMPUT

    35
  • IEEE T NUCL SCI

    34
  • J ELECTRON TEST

    30
  • IEEE DES TEST

    29
  • IEEE J SOLID-ST CIRC

    29
  • IEEE T MICROW THEORY

    21
  • MICROELECTRON RELIAB

    19
  • IEEE T CIRCUITS-I

    15

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