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电子测试杂志

电子测试杂志 省级期刊

预计1个月内 下单时间

0.76 影响因子

工业 快捷分类

16286 发文量

19899 总被引次数

25 H指数

0.0202 立即指数

4.8708 引用半衰期

0.9783 期刊他引率

2.8566 平均引文率

北京市科学技术研究院

1994

微电子测试

北京自动测试技术研究所

电子信息科学综合

1000-8519

半月刊

100098

11-3927/TN

中文

陈晓筱

预计1个月内

82-870

198

¥260.00

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电子测试杂志简介

《电子测试》杂志(CN:11-3927/TN)内容丰富、思想健康,1994年创刊,目前以半月刊形式发行,刊物对外积极扩大宣传,以介绍最新电子技术和测试测量技术为主,秉承一贯的专业性和权威性的办刊宗旨,致力于提高杂志质量与影响。

电子测试发文方向

设计与研发虚拟仪器技术微处理器与编程器件的应用新品评测特集测试工具与解决方案新软件新硬件产品咨询与行业新闻

电子测试杂志特色

①稿件署名作者应为合法著作权人,文责自负,文章内容无违法违规、不涉及保密,署名无争议。文稿中摘编或引用他人作品,务请按《著作权法》有关规定在注释资料中标明原作者姓名、作品名称及其来源等。

②文稿附3~8个中英文对应的关键词,中英文题名和作者单位。

③为方便前后文献对照检查,在投稿时作者应在文内的右上角标注序号,文后的参考文献也对应地标上序号,以免重复或漏掉文献。

④请在首页地脚处注明作者姓名、学位、职称、研究方向,首页右上角注明联系电话。

⑤本刊对来稿有修改权,不愿改动者,请事先说明。

杂志收录与荣誉

知网收录(中)
维普收录(中)
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国家图书馆馆藏
上海图书馆馆藏
中国优秀期刊遴选数据库
中国期刊全文数据库(CJFD)

电子测试杂志数据统计注:由于版面限制,此处仅列出部分数据信息,了解详情请联系客服 了解详情 >>

年度期刊评价报告 (本刊综合数据对比及走势)
名词解释:

影响因子:指该期刊近两年文献的平均被引用率,即该期刊前两年论文在评价当年每篇论文被引用的平均次数

被引半衰期:衡量期刊老化速度快慢的一种指标,指某一期刊论文在某年被引用的全部次数中,较新的一半被引论文刊载的时间跨度

期刊他引率:他引率是指,此期刊被引用次数中,被其他刊引用次数所占的比例

引用半衰期:指某种期刊在某年中所引用的全部参考文献中较新的一半是在最近多少年时段内刊载的

平均引文率:在给定的时间内,期刊篇均参考文献量,用以测度期刊的平均引文水平,考察期刊吸收信息的能力以及科学交流程度的高低

杂志被引半衰期、引用半衰期

杂志影响因子、被引次数

杂志发文量、期刊他引率

杂志平均引文率

电子测试杂志文章分期部分汇总

  • 大功率D类功放的仿真研究

    王光旭; 任娟慧
  • 磁耦数字隔离器瞬态共模抑制性能的电路仿真方法

    徐昕; 陈品君; 刘路扬; 高会壮
  • 基于STM32F103单片机LED线阵显示装置的设计

    王先彪; 张仁朝; 张茂贵
  • 基于ESP8266的板卡模拟测试平台设计

    冯光成
  • 蓝牙跳频通信系统仿真设计

    王文娟; 王欣; 霍晓磊

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  • 主管单位:北京市科学技术研究院
  • 主办单位:北京自动测试技术研究所
  • 全年订价:¥260.00
  • 期刊类别:工业

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